晶片測(cè)試分類(lèi)機(jī)
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產(chǎn)品名稱(chēng): 晶片測(cè)試分類(lèi)機(jī)
產(chǎn)品型號(hào): 3112
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
高信賴(lài)度之PnP自動(dòng)化測(cè)試分類(lèi)機(jī)
x4 多盤(pán)置入自動(dòng)測(cè)試分類(lèi)
全方位(X/Y/Z/θ)可調(diào)式探針座模塊
測(cè)式座產(chǎn)品堆棧檢測(cè)
x12輸出分類(lèi)盤(pán)可程序設(shè)定輸出類(lèi)別
全程實(shí)時(shí)良率顯示與控制
全程探針接觸狀態(tài)顯示(選配)
晶片測(cè)試分類(lèi)機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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高信賴(lài)度之PnP自動(dòng)化測(cè)試分類(lèi)機(jī)
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x4 多盤(pán)置入自動(dòng)測(cè)試分類(lèi)
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全方位(X/Y/Z/θ)可調(diào)式探針座模塊
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測(cè)式座產(chǎn)品堆棧檢測(cè)
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x12輸出分類(lèi)盤(pán)可程序設(shè)定輸出類(lèi)別
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全程實(shí)時(shí)良率顯示與控制
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全程探針接觸狀態(tài)顯示(選配)
Chroma 3112具備單頭與多頭之適合量產(chǎn)的PnP 自動(dòng)化芯片測(cè)試分類(lèi)機(jī)，可藉由治具變更處理各種不同尺寸規(guī)格之芯片測(cè)試與分類(lèi)。此設(shè)備透 過(guò)PnP方式將芯片自芯片盤(pán)加載至測(cè)試站中，**的測(cè)試后依據(jù)測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定的放置于分類(lèi)盤(pán)中。其高效率的模塊化設(shè)計(jì)與精準(zhǔn)的機(jī)構(gòu)傳動(dòng) 結(jié)構(gòu)可確保在高速運(yùn)作下減少Jam Rate的量產(chǎn)要求，多重檢查功能裝置可降低待測(cè)物發(fā)生異常的損壞。
芯片測(cè)試運(yùn)用此自動(dòng)化測(cè)試分類(lèi)技術(shù)不僅能提升 生產(chǎn)效率、減少人力需求，同時(shí)也增加了測(cè)試穩(wěn)定度及測(cè)試良率。此外，其簡(jiǎn)潔的機(jī)臺(tái)設(shè)計(jì)更可節(jié)省機(jī)臺(tái)于測(cè)試廠之占地面積，幫助客戶(hù)大幅降低生產(chǎn)成本。
